Cieľom aktivity je priblížiť študentom princíp a možnosti využitia mikroskopie atómových a magnetických síl (AFM/MFM) pri skúmaní vlastností povrchov materiálov na nanometrovej úrovni.
| Študijný program | jadrové a fyzikálne inžinierstvo |
|---|---|
| Typ aktivity | prednáška |
| Cieľová skupina | gymnázium, stredná odborná škola |
| Doba trvania | 30 minút |
| Miesto | FEI STU |
Anotácia
Demonštrácia zoznámi študentov s mikroskopiou atómových a magnetických síl, modernými metódami na skúmanie povrchov materiálov na nanometrovej úrovni. Ukáže, ako tieto techniky dokážu „vidieť“ štruktúry až na úroveň jednotlivých atómov a aké princípy merania pri tom využívajú. Súčasťou je aj stručná diskusia o praktických možnostiach použitia AFM a MFM v súčasnej vede a technike.
Poznámka
max 7. študentov
Kontakt
Ing. Patrik Novák, PhD.
patrik.novak@stuba.sk
