Cieľom demonštrácie je priblížiť študentom princíp röntgenovej fluorescencie (XRF) a ukázať, ako možno pomocou charakteristického žiarenia jednoznačne identifikovať chemické prvky a určiť ich koncentráciu vo vzorkách.
| Študijný program | jadrové a fyzikálne inžinierstvo |
|---|---|
| Typ aktivity | prednáška |
| Cieľová skupina | gymnázium, stredná odborná škola |
| Doba trvania | 30 minút |
| Miesto | FEI STU |
Anotácia
Počas demonštrácie sa študenti oboznámia s tým, ako sa fluorescenčné žiarenie deteguje, spracúva a zobrazuje vo forme spektra a že každý prvok zanecháva svoj „odtlačok prsta“, na základe ktorého ho možno identifikovať. Diskutovaná bude aj praktická stránka XRF analýzy – od využitia v geológii a archeológii cez environmentálne vedy až po priemysel. Študenti budú mať možnosť vidieť ukážky spektrálnych dát získaných z rôznych materiálov a porovnať, ako sa líšia ich charakteristické čiary.
Kontakt
Ing. Patrik Novák, PhD.
patrik.novak@stuba.sk
