Cieľom aktivity je priblížiť študentom princíp a možnosti využitia mikroskopie atómových a magnetických síl (AFM/MFM) pri skúmaní vlastností povrchov materiálov na nanometrovej úrovni. Žiaci sa zoznámia so spôsobom, akým sa dajú pozorovať nielen povrchové štruktúry, ale aj magnetické domény materiálov.
| Študijný program | jadrové a fyzikálne inžinierstvo |
|---|---|
| Typ aktivity | prednáška |
| Cieľová skupina | gymnázium, stredná odborná škola |
| Doba trvania | 30 minút |
| Miesto | FEI STU |
Anotácia
Demonštrácia je zameraná na oboznámenie stredoškolských študentov s modernou experimentálnou metódou – mikroskopiou atómových síl (AFM) a mikroskopie magnetických síl (MFM), ktorá sa využíva na skúmanie povrchov materiálov a umožňuje „vidieť“ povrch vzorky s rozlíšením na úrovni jednotlivých atómov. Účastníci sa oboznámia s princípami merania a budú mať príležitosť diskutovať o praktických aplikáciách AFM a MFM.
Poznámka
max 7. študentov
Kontakt
Ing. Patrik Novák, PhD.
patrik.novak@stuba.sk
