Prejsť na obsah
Dianie na FEI

Ústav elektroniky a fotoniky FEI STU vás pozýva na odborný seminár:

  • Merania VF obvodov vektorovým analyzátorom
    Prednášajúci: Ing. Daniel Valúch, PhD. - pracovnik CERN-u

  • CST MICROWAVE STUDIO 3D simulačný softvér EM polí
    Prednášajúci: Ing. Vladimír Bilík, PhD. - pracovnik FEI STU
Termín: 5. novembra 2013 od 10:00 do 13:00 hod.
Miesto: Zasadacia miestnosť, A blok, 1. poschodie

Vstup voľný.

Viac informácií na plagáte>>> jpg (1 021 kB)