Elektronika, štud. program Mikroelektronika

2018

• doc. Ing. Martin Weis, PhD.: Technológia prípravy a charakterizácia
  prvkov organickej elektroniky Fabrication (1 115 kB)

2017

• Ing. Andreas Weisze: New Methods of Impedance Analysis of Active Points on Human Skin (2 101 kB)
  

2016

• Ing. Michal Blaho: Nové technológie a ich využitie v GaN HEMT tranzistoroch (2 531 kB)
  
  
• Ing. Miroslav Petrus: Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových materiálov a prvkov spektroskopiou hlbokých hladín (1 405 kB)

2015

• Ing. Filip Gucmann: Kov-oxid-polovodič (MOS) štruktúry na GaAs (pdf, 7 423 kB)
  
  
• Ing. Jaroslav Dzuba: Design of AlGaN/GaN MEMS pressure sensor for harsh environment (pdf, 1 821 kB)
  
  
• Ing. Ivan Rýger: AlGaN/GaN based high electron mobility transistors and surface acoustic waves for hydrogen sensing (pdf, 850 kB)
  
  
• Ing. Mamadou Seck: Combining Surface and Vertical Profile-Studies of Organic Materials in Solar Cells (pdf, 1 526 kB)
  
  
• Ing. arch. Ľubomír Vančo: Vybrané problémy povrchovo zosilnenej Ramanovej spektroskopie (SERS) (pdf, 2 245 kB)
  
  
• Ing. Jana Vereš Benkovská: Elektrická charakterizácia štruktúr na báze progresívnych polovodičových materiálov (pdf, 1 444 kB)

2014

• Ing. Gábor Gyepes: Application of IDDT test in SRAM arrays towards detection of weak opens (pdf, 799 kB)
  
  
• Ing. Michal Jurkovič: Vysoko-výkonové normálne-zatvorené spínacie tranzistory na báze GaN (pdf, 1 821 kB)
   
• Ing. Mário Kotlár: Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie (pdf, 2 979 kB)
  
  
• Ing. Anton Kuzma: Fotonické prvky pre optické komunikačné systémy (pdf, 1 843 kB)
  
  
• Ing. Marián Molnár: Návrh a charakterizácia progresívnych výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou (pdf, 998 kB)
  
  
• Ing. Michal Nemec: Diagnostika kremíkových heteroštruktúr pre moderné fotovoltické aplikácie (pdf, 686 kB)
  
  
• Ing. Martin Predanocy: Miniatúrne senzory plynov na báze naprašovaných tenkých vrstiev oxidu niklu (pdf, 1 457 kB)
   
• Ing. Juraj Priesol: Aplikácia metódy Monte Carlo v rastrovacej elektrónovej mikroskopii GaN štruktúr (pdf, 1 684 kB)
  
  
• Ing. Karol Rendek: Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT (pdf, 3 382 kB)
   

2013 

• Ing. Jakub Rybár: Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DL TS (pdf, 624 kB)
   
• Ing. Peter Telek: Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie (pdf, 1 289 kB)
  
  
• Ing. Daniel Arbet: Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov (pdf, 4 312 kB)
  
  
• Ing. Juraj Brenkuš: Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody (pdf, 692 kB)
  
  
• Ing. Ivan Košč: Zložené vrstvy na báze TiO2 a NiO na detekciu vodíka (pdf, 555 kB)
   
• Ing. Juraj Pecháček: Elektrická charakterizácia schottkyho štruktúr s heteropriechodom AlGaN/GaN (pdf, 11 448 kB)
  
  
• Ing. Patrik Príbytný: Návrh a analýza moderných výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou (pdf, 586 kB)
   
• Ing. Marián Varga: Diamond in Nanotechnology (pdf, 6 154 kB)

2012

• Ing. Lukáš Nagy: Detekcia ukončenia výpočtu pre nízkopríkonové asynchrónne systémy v nanometrových technológiách (pdf, 2 498 kB)